年別の研究成果
年別の研究成果
フィンガープリント
Takahiro Shinadaが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
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過去5年の共同研究と上位研究分野
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Detecting nuclear spins in an organosilane monolayer using nitrogen-vacancy centers for analysis of precursor self-assembly on diamond surface
Ueda, Y., Miyake, Y., Chanuntranont, A., Otani, K., Tsugawa, M., Saito, D., Usui, S., Teraji, T., Onoda, S., Shinada, T., Kawarada, H. & Tanii, T., 2023 6月 1, In: Japanese Journal of Applied Physics. 62, SG1049.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術論文 › 査読
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Design and Heavy-Ion Testing of MTJ/CMOS Hybrid LSIs for Space-Grade Soft-Error Reliability
Watanabe, K., Shimada, T., Hirose, K., Shindo, H., Kobayashi, D., Tanigawa, T., Ikeda, S., Shinada, T., Koike, H., Endoh, T., Makino, T. & Ohshima, T., 2022, 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2022 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. P541-P545 (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; vol. 2022-March).研究成果: 書籍の章/レポート/Proceedings › 会議への寄与 › 査読
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Position-Controlled Functionalization of Vacancies in Silicon by Single-Ion Implanted Germanium Atoms
Achilli, S., Le, N. H., Fratesi, G., Manini, N., Onida, G., Turchetti, M., Ferrari, G., Shinada, T., Tanii, T. & Prati, E., 2021 5月 21, In: Advanced Functional Materials. 31, 21, 2011175.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術論文 › 査読
9 被引用数 (Scopus) -
Quantum transport through a disordered array of Ge-vacancy defects in silicon for application in quantum technologies
Achilli, S., Le, N. H., Fratesi, G., Manini, N., Onida, G., Turchetti, M., Ferrari, G., Shinada, T., Tanii, T. & Prati, E., 2021, 2021 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (2021 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2021).研究成果: 書籍の章/レポート/Proceedings › 会議への寄与 › 査読
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Electroluminescence of Er:O-doped nano pn diode in silicon-on-insulator and its current-voltage characteristics at room temperature
Fujimoto, T., Gi, K., Bigoni, S., Celebrano, M., Finazzi, M., Ferrari, G., Shinada, T., Prati, E. & Tanii, T., 2020 6月, 2020 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 123-124 2 p. 9131655. (2020 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2020).研究成果: 書籍の章/レポート/Proceedings › 会議への寄与 › 査読
プレス/メディア
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Japan Restricts Chipmaking Equipment Exports As It Aligns With US China Curbs.
23/3/31
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Japan restricts chipmaking equipment exports as it aligns with US China curbs
23/3/31
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Japan restricts chipmaking equipment exports as it aligns with US China curbs
23/3/31
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