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研究部門
研究成果
専門知識、名前、または所属機関で検索
Scopus著者プロファイル
木村 由斉
助教
工学研究科・ファインメカニクス専攻
h-index
59
被引用数
4
h 指数
Pureの文献数とScopusの被引用数に基づいて算出されます
2016
2022
年別の研究成果
概要
フィンガープリント
ネットワーク
研究成果
(14)
類似のプロファイル
(5)
Pureに変更を加えた場合、すぐここに表示されます。
フィンガープリント
Yoshinari Kimuraが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Chemistry
Liquid Film
90%
Surface
65%
Oxide
60%
Procedure
58%
Optical Microscopy
46%
Microscopy
46%
Reaction Mechanism
41%
Shape
40%
Molecule
40%
Sensor
40%
Nanomaterial
40%
Work Function
40%
Atomic Force Microscopy
36%
Nanowire
34%
Application of Sensors
30%
Thiophene
26%
Voltage
26%
Water Type
24%
Wetting
24%
Sheet Resistance
20%
Density
20%
Raman Spectrum
20%
Structure
20%
Quantum Chemistry
20%
Pentacene
18%
Monolayer
16%
Crystallinity
16%
Time
16%
Application
16%
Ethanol
16%
Modified Electrodes
16%
Fluorine Atom
16%
Contact Resistance
16%
Aqueous Solution
16%
Interfacial Tension
16%
Vacuum Evaporation
13%
Surface Treatment
13%
Chemical Sensor
12%
Thickness
10%
Space Charge
10%
UV/VIS Spectroscopy
10%
Volume
10%
Ethylene Glycol
8%
Heating
8%
Quantum Chemical Calculations
8%
Modification
8%
Amount
8%
Dielectric Material
8%
Surface Property
8%
Diffusion Coefficient
6%
Physics
Capacitance
100%
Electric Potential
90%
Atolls
80%
Threshold Voltage
70%
Metal Oxide Semiconductor
68%
Oxygen Plasma
59%
Area
48%
Substrates
46%
Circuits
44%
Thin Films
40%
Vacuum Deposition
40%
Energy Distribution
30%
Energy Levels
30%
Shapes
27%
Nanowires
24%
Mobility
23%
Evaluation
23%
Molecules
20%
Oxide
20%
Fractal
20%
Images
20%
Frequency Dependence
18%
Dielectrics
18%
Statistical Analysis
13%
Region
12%
Frequencies
11%
Atomic Force Microscopy
10%
Crystallinity
10%
Diameters
10%
Differences
10%
Transferring
10%
Water
8%
Utilization
8%
Electrodes
8%
Heating
8%
Detection
8%
Frequency Measurement
8%
Parameter
6%
Diffusivity
6%
Engineering
Thin Films
80%
Nanowire
34%
Growth Mechanism
26%
Two Dimensional
23%
Thin-Film Transistor
20%
Sheet Resistance
20%
Characteristics
20%
Surfaces
20%
Substrates
20%
Geometric Shape
20%
Induced Stress
20%
Images
20%
Electric Potential
18%
Substrate Temperature
16%
Si Substrate
16%
Surface Morphology
16%
Measurement
13%
Density
13%
Evaluation
13%
Shape Complexity
13%
Pentacene
10%
Gate Dielectric
10%
Thickness
10%
Colour Contrast
10%
Growth Mode
10%
Supports
10%
Crystallinity
10%
Monolayer
10%
Space Charge
10%
Ohmic Conduction
10%
Temperature Dependence
10%
Equivalent Circuit
8%
Water
8%
Response Time
8%
Heating
8%
Mechanisms
8%
Deposition Condition
6%
Complex Shape
6%
Diffusion Coefficient
6%
High Quality
6%
Material Dependent
6%
Substrate Surface
6%
Surface Condition
6%
