Extended vacancy-type defects in silicon induced at low temperatures by electron irradiation

J. Yamasaki, Y. Ohno, S. Takeda, Y. Kimura

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フィンガープリント

「Extended vacancy-type defects in silicon induced at low temperatures by electron irradiation」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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