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研究成果
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Neutral beam technology-defect-free nanofabrication for novel nano-materials and nano-devices
Seiji Samukawa
流体科学研究所・未到エネルギー研究センター
研究成果
:
Conference contribution
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Neutral beam technology-defect-free nanofabrication for novel nano-materials and nano-devices」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Physics
Defects
100%
Neutral Beams
66%
Semiconductor Device
66%
Room Temperature
33%
Nanoscale
33%
Nanomaterial
33%
Nanofabrication
33%
Process Technology
33%
Area
33%
Domains
33%
Technology
33%
Accumulations
33%
Chemical Reaction
33%
Miniaturization
33%
Engineering
Defects
100%
Plasma Process
100%
Surfaces
66%
Room Temperature
33%
Nanomaterial
33%
Miniaturization
33%
Nanoscale
33%
Atomic Layer
33%
Plasma Applications
33%
Integration
33%
Characteristics
33%
Large Surface
33%
Material Science
Devices
100%
Defect
100%
Surface
66%